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J-GLOBAL ID：201802277919842018   整理番号：18A1028743

ポテンシャル誘起劣化回復挙動を考慮した寿命保証試験法【JST・京大機械翻訳】

Lifetime warranty test method considering potential induced degradation recovery behavior

著者 (4件)： Kang Kyungchan (LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea) ,  Kim Byongsu (LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea) ,  Park Sanghwan (LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea) ,  Chang Sungho (LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： PVSC  ページ： 1-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近年,高電位で動作するPVモジュールのいくつかの故障モードが観察された。最も支配的な分解機構は,結晶性PVモジュールの「ポテンシャル誘起劣化(PID)」と呼ばれる。IECワーキンググループによって提案されたPID試験は,特定のモジュールを反映しない。結果として,それらは寿命保証試験[2]の要件を満たさない。特に,太陽電池の回復特性を反映しない。本研究では,n型単結晶太陽電池の回復特性を考慮した寿命試験法に焦点を当てた。電位誘起電力劣化に関するモジュールの感度を照明下での回復挙動に関して調べた。正と負のポテンシャルを考慮した。試験を2つの部分に分割した。最初に,PID試験をIEC TS 62804に従って実行した。1,方法。次に,特別なPID-/光回復シーケンスを実行した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *太陽電池 ,  単結晶 ,  照明 ,  寿命試験 ,  結晶度 ,  故障モード ,  電位 ,  電力
準シソーラス用語： 分解機構 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (7件)： ポテンシャル ,  誘起 ,  回復 ,  挙動 ,  寿命 ,  保証 ,  試験法