文献

J-GLOBAL ID：201802279841782069   整理番号：18A1998460

その場X線シンクロトロンに基づくマイクロ断層撮影によるAA7050中の構成粒子の亀裂による疲れ亀裂偏向の測定【JST・京大機械翻訳】

Measuring fatigue crack deflections via cracking of constituent particles in AA7050 via in situ x-ray synchrotron-based micro-tomography

著者 (6件)： Carter Stephen T. (School of Aeronautics and Astronautics, Purdue University, 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA) ,  Rotella John (School of Materials Engineering, Purdue University 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA) ,  Agyei Ronald F. (School of Aeronautics and Astronautics, Purdue University, 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA) ,  Xiao Xiaghui (Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, 9700 South Cass Avenue, Argonne, IL 60439-4837, USA) ,  Sangid Michael D. (School of Aeronautics and Astronautics, Purdue University, 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA) ,  Sangid Michael D. (School of Materials Engineering, Purdue University 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA)
資料名： International Journal of Fatigue  (International Journal of Fatigue)
巻： 116  ページ： 490-504  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0802B  ISSN： 0142-1123  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 脆性構成粒子は,2XXXと7XXXシリーズアルミニウム合金の疲れ挙動において重要な役割を果たす。本研究では,X線シンクロトロン計算マイクロトモグラフィー(μXSCT)特性化と組み合わせたその場疲れ亀裂成長を用いて,構成粒子と相互作用する三次元伝搬疲れ亀裂を観察し定量化した。亀裂先端の前方の構成粒子のサイズと亀裂経路の最大距離が粒子と相互作用するのに関係が観察された。この亀裂偏向挙動は,疲れ性能に及ぼす小さな欠陥の影響に対して,MurakamiおよびEndoモデルと一致した。(i)完全結合粒子のEshelby不均一性解に基づく応力場解析,(ii)Westergaard解に基づく亀裂粒子は,構成粒子の存在により発達した応力集中が亀裂経路たわみに寄与することを示した。この知見は,AA7050-T7451における疲れ亀裂成長をモデル化するための意味を有しており,特に,平坦な投影長さとは対照的に,蛇行亀裂トポグラフィーの観点から実際の亀裂長さを決定することができる。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *亀裂 ,  応力集中 ,  不均一性 ,  相互作用 ,  *疲れ亀裂 ,  たわみ ,  三次元 ,  *偏向 ,  亀裂先端 ,  アルミニウム合金 ,  モデリング ,  *シンクロトロン ,  疲れ亀裂成長 ,  キャラクタリゼーション
準シソーラス用語： *AA7050 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 疲れ亀裂成長 ,  構成粒子 ,  亀裂偏向 ,  X線シンクロトロンに基づくマイクロトモグラフィー ,  AA7050-T7451

分類 (1件)： 金属材料  (HC05020S)

タイトルに関連する用語 (7件)： X線 ,  シンクロトロン ,  断層撮影 ,  AA7050 ,  亀裂 ,  疲れ亀裂 ,  偏向