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J-GLOBAL ID:201802280274469372   整理番号:18A0401381

強化されたアナログ性能のためのG S/Dアンダーラップの研究とNQS小信号モデルを用いたUTB InAs OI Si MOSFETのRF/circuit解析【Powered by NICT】

Study of G-S/D underlap for enhanced analog performance and RF/circuit analysis of UTB InAs-OI-Si MOSFET using NQS small signal model
著者 (2件):
資料名:
巻: 101  ページ: 362-372  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0600B  ISSN: 0749-6036  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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InGaAs(とその変異体)は,その優れたキャリア輸送特性のために高速,低電力CMOS応用のための有望なチャネル材料であると思われる。しかし,このを使用したMOSトランジスタは貧弱な静電完全性に悩まされている。本研究では,著者らは,下にはみ出して重なる超薄体(UTB)InAs上の絶縁体nチャネルMOSトランジスタを考察し,素子のアナログ性能に対するゲート-ソース/ドレイン(G S/D)アンダーラップ長を変える技術コンピュータ支援設計(TCAD)シミュレーションの助け,のないSchrodinger-Poissonソルバと実験結果と較正の効果を研究した。アンダーラップ技術はアナログ性能を改善するゲート静電完全性を改善した。RF性能の研究に使用されるデバイスの非準静的(NQS)小信号等価回路モデルを開発した。アンダーラップ長さの増加に伴い,単位利得カットオフ周波数が低下すると最大発振周波数は,下にはみ出して重なる長さのある値を越えると改善された。NQSモデルを用いた共通ソース増幅器の利得-周波数応答を研究し,SPICEシミュレーションと電圧利得と利得帯域幅を改善することを観測した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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トランジスタ 

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