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J-GLOBAL ID：201802281126936663   整理番号：18A0484003

平坦スペクトル応答X線ダイオード上の金光電陰極汚染の影響【Powered by NICT】

Effect of gold photocathode contamination on a flat spectral response X-ray diode

著者 (7件)： Wang Kun-lun (Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China) ,  Zhang Si-qun (Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China) ,  Zhou Shao-tong (Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China) ,  Huang Xian-bin (Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China) ,  Ren Xiao-dong (Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China) ,  Dan Jia-kun (Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China) ,  Xu Qiang (Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 884  ページ： 75-81  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0208B  ISSN： 0168-9002  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 約平坦なスペクトル応答を持つ検出器は,強い熱X線フラックスを診断するための重要である。平坦なスペクトル応答X線ダイオード(FSR XRD)を金光電陰極X線ダイオードと100 4000eVの光子エネルギー範囲でほとんど平坦なスペクトル応答を生じさせる特別に構成された金フィルタを利用した。いくつかのFSR X線回折のスペクトル応答は一次試験台施設でのZピンチ実験の数ショット後に変化したことが観察された。汚染の厚さを特性化する自由パラメータを持つモデルを用いた金の光電陰極のスペクトル応答を適合させることにより変化の解析を示した。FSR X線回折のスペクトル応答を,シンクロトロン放射を用いた較正された,いくつかの洗浄法はキャリブレーションを用いて試験した。モデルと洗浄の結果を考慮すると,汚染は応答変化の主要な原因であることが予測される。汚染はFSR XRDのスペクトル応答の平坦性を悪化し,平均応答を減少させ,汚染を避けることが重要である。現在の結果は,汚染の更なる研究の必要性を示した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： フィルタ ,  シンクロトロン放射 ,  検出器 ,  *X線 ,  *金 ,  キャラクタリゼーション ,  粒状材 ,  X線回折 ,  *光電陰極 ,  平坦性 ,  Zピンチ
準シソーラス用語： 光子エネルギー ,  *X線ダイオード ,  *スペクトル応答 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 表面汚染 ,  金光電陰極 ,  平坦スペクトル応答 ,  X線ダイオード

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験技術一般  (BE01010F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 平坦 ,  スペクトル応答 ,  X線ダイオード ,  金 ,  光電陰極 ,  汚染