抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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一般に,損失現象は光の量子的性質に影響することが知られている。吸収非線形媒質におけるパラメトリック増幅の量子機械的治療について述べた。な物理系の量子機械的場演算子の発現はH eisenberg方程式に基づいて提示し,それを用いて中程度の吸収を患っている進行光の量子的性質を定量的に評価した。得られた演算子を用いた計算は,雑音性能のいくつかの分解は吸収に起因することを示した。位相敏感パラメトリック増幅におけるスクイージング性能に及ぼす吸収の影響も評価した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】