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J-GLOBAL ID:201802283264769484   整理番号:18A1378059

19-1:招待論文:スパッタ非晶質タングステンドープ酸化インジウムベース薄膜トランジスタの安定性【JST・京大機械翻訳】

19-1: Invited Paper: Stability of Sputtered Amorphous Tungsten-doped Indium Oxide Based Thin-Film Transistors
著者 (6件):
資料名:
巻: 49  号:ページ: 225-227  発行年: 2018年 
JST資料番号: E0907A  ISSN: 0097-966X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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異なる波長で照射し,異なる雰囲気でアニールした後に,スパッタした非晶質タングステンをドープした酸化インジウムベース薄膜トランジスタの安定性を調べた。それは,安定性が波長と照射時間に依存し,酸素,窒素または適切なアニーリング温度でアニールした後に改善できることを明らかにした。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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酸化物薄膜 

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