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J-GLOBAL ID：201802283737300351   整理番号：18A0195527

高速アナログ回路の性能に及ぼすプロセス/レイアウト影響の解析と特性化【Powered by NICT】

Analysis and characterization of process/layout impacts on the performance of high-speed analog circuits

著者 (5件)： Zhao Long (Shanghai Research Institute of Microelectronics, Peking University, Shanghai 201203, China) ,  Zou Feng (Shanghai Research Institute of Microelectronics, Peking University, Shanghai 201203, China) ,  Yang Josh (Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai 201203, China) ,  Tang Tianshen (Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai 201203, China) ,  Cheng Yuhua (Shanghai Research Institute of Microelectronics, Peking University, Shanghai 201203, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ASICON  ページ： 116-119  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ギガヘルツアナログ-ディジタル変換器(ADC)のような高速アナログ回路は,光通信システムと広帯域オシロスコープのような種々の応用のための重要なビルディングブロックである。高速アナログ回路を設計する上で設計者が解決する必要があるより設計への挑戦。寄生/プロセス影響の分析およびキャラクタリゼーションは,設計者回路設計を最適化することを助けるにおいて非常に重要である。高速A DCの性能に及ぼすプロセスとレイアウト寄生からの影響を調べ,回路のサンプリング精度,ESD保護能力の挙動とリング発振器の発振周波数のようないくつかの重要な回路パラメータを研究した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 回路定数 ,  *アナログ回路 ,  リング発振器 ,  最適化 ,  *高速度 ,  回路設計 ,  広帯域 ,  オシロスコープ ,  *キャラクタリゼーション
準シソーラス用語： 発振周波数 ,  ESD保護 ,  ビルディングブロック ,  光通信システム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 発振回路  (NC05020Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： アナログ回路 ,  プロセス ,  レイアウト ,  解析 ,  特性化