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J-GLOBAL ID:201802285092068841   整理番号:18A1334310

MBE成長β-Ga2O3横方向深紫外検出器におけるゼロバイアス応答性の実証

Demonstration of zero bias responsivity in MBE grown β-Ga2O3 lateral deep-UV photodetector
著者 (8件):
資料名:
巻: 57  号:ページ: 060313.1-060313.5  発行年: 2018年06月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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MBE成長したβ-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>平面UV-C検出器において,4.6mW cm<sup>-2</sup>の光パワー密度までの良好な線形性をもつゼロバイアススペクトル応答性を実証した。サファイア基板上の厚さ150nmのβ-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>膜上に,非対称金属接触を有する素子を実現した。この素子はゼロバイアス条件下で255nmで1.4mA W<sup>-1</sup>のスペクトル応答性,15Vで暗電流<10nA,および5VでUV対可視除去比~10<sup>5</sup>を示した。実証されたUV-C検出器は1Vで2.0×10<sup>12</sup>Jonesの高い検出感度を示し,非常に安定で再現性があり,焦点面アレイへの利用可能性を実証した。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
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半導体薄膜  ,  測光と光検出器一般 
引用文献 (52件):
  • A. J. Green, K. D. Chabak, E. R. Heller, R. C. Fitch, M. Baldini, A. Fiedler, K. Irmscher, G. Wagner, Z. Galazka, S. E. Tetlak, A. Crespo, K. Leedy, and G. H. Jessen, IEEE Electron Device Lett. 37, 902 (2016).
  • T. Oishi, Y. Koga, K. Harada, and M. Kasu, Appl. Phys. Express 8, 031101 (2015).
  • M. Higashiwaki, K. Sasaki, A. Kuramata, T. Masui, and S. Yamakoshi, Appl. Phys. Lett. 100, 013504 (2012).
  • S. Krishnamoorthy, Z. Xia, S. Bajaj, M. Brenner, and S. Rajan, Appl. Phys. Express 10, 051102 (2017).
  • S. Kumar, A. S. Pratiyush, R. Muralidharan, and D. N. Nath, arXiv:1802.02313.
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