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J-GLOBAL ID:201802286646429651   整理番号:18A0588496

フラッシュ走査:2次元二分を用いたPSD顕微鏡法のための複雑な物体の超高速局所走査【Powered by NICT】

Flash scanning: An ultra fast local scanning of complicated objects for PSD microscopy using 2D bisection
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: RCAR  ページ: 721-726  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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以前の研究では,PSDセンサを用いて走査洗練された物体のできることをPSD(Position Sensitive Detector)センサに基づく顕微鏡システムとX-Yテーブルとして作用するマイクロマニピュレータによって移動するレーザビームを導入した。顕微鏡システムはPSDの表面に未知の物体を位置決め,物体の寸法を測定し,分岐および交差を有する物体のための局所走査を行う適応を含む多数の操作をカバーできる。本システムからの結果は有意で注目すべき結果を示すにもかかわらず,まだ,レーザの走査速度はマイクロマニピュレータの運動の速度に依存する。本研究,はマイクロマニピュレータの制約を除去するための完全に新しいシステムを導入することにより,顕微鏡システムへの拡張を提示した。シミュレーションはレーザを必要としない超高速走査を示し,PSDの全域を非常に短時間でできる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (4件):
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レーザの応用  ,  図形・画像処理一般  ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  ,  計測機器一般 

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