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J-GLOBAL ID:201802286989051615   整理番号:18A0517103

単一故障の解析伝搬経路による二重縮退故障に対するATPG法【Powered by NICT】

An ATPG Method for Double Stuck-At Faults by Analyzing Propagation Paths of Single Faults
著者 (4件):
資料名:
巻: 65  号:ページ: 1063-1074  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0226B  ISSN: 1549-8328  CODEN: ITCSCH  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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作製した回路は大きくなり,高密度として,単一故障の検出に焦点を当て,現代工業自動化テスト・パターン生成技法は,複数の(同時)断層を見落としてより可能性が高くなった。は与えられた回路設計における単一故障よりも指数関数的により多重故障が,わずかな追加試験パターンは,全ての多重故障をカバーするために必要である,テスト生成は単一故障のための完全な試験セットから始まる。本論文では,まず,単一故障に対するテストパターンはすべての多重故障をカバーし,条件における多重故障のいくつかは見逃される可能性がある説明に十分である事例を示した。この解析に基づいて,すべての断層を横切るなし二重故障のための完全なテスト集合を効率的に生成する方法を提案した。最も二重故障の単一故障試験セットにより検出できるので,提案した方法は,単一故障の伝搬経路を解析し,次にこれら被覆断層に対してのみ新しいテストパターンを生成することにより明らかにした二重故障を選択するだけであった。実験結果は,単一故障試験セットに基づいて,提案した方法は,大部分を与えられた回路の中のすべての二重故障をカバーする少数の付加的な試験パターンを生成する必要があるだけであることを示した。同じプロセスを繰り返すことにより,提案した方法は全ての多重故障に対処するために徐々に印加できる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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半導体集積回路 
タイトルに関連する用語 (5件):
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