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J-GLOBAL ID：201802287662375339   整理番号：18A1677282

LBISTにおける電力削減のための各種テストパターン発生器の探索【JST・京大機械翻訳】

Exploration of Various Test Pattern Generators for Power Reduction in LBIST

著者 (2件)： Jambagi Savitri Basappa (VLSI design and embedded system, VTU Extension Centre UTL Technologies Ltd, Bangalore, India) ,  Yellampalli Siva S. (VLSI design and embedded system, VTU Extension Centre UTL Technologies Ltd, Bangalore, India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CTCEEC  ページ： 710-713  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 線形フィードバックシフトレジスタは,LBISTアーキテクチャにおけるテストパターン発生器として一般的に使用されている。テストパターンはTPGにより生成され,CUTに適用される。TPGにより生成されたパターンは,CUT内でより高いスイッチング活性をもたらすので,試験モードにおけるより高い電力散逸に寄与する。この問題を克服するために,従来のLFSRを修正することにより異なるTPGを提案した。本論文では,低消費電力を達成するために,文献で提案されている7つの異なる低出力テストパターン発生器の比較解析を示した。8x8マルチプレクサ回路をCUTとして用いた。すべての7つのTPGの比較した修正クロック方式は,低いテストベクトル電力認識アーキテクチャのための最良の適合したTPGである。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： スイッチング ,  クロック ,  計算機アーキテクチャ ,  *BIST ,  ベクトル ,  *テストパターン ,  *電力
準シソーラス用語： 低出力 ,  低電力化 ,  LFSR ,  *パターンジェネレータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： テスト ,  パターン発生器 ,  探索