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J-GLOBAL ID：201802289437089340   整理番号：18A2107230

スペクトル検出を用いたX線後方散乱イメージング断層合成の概念の証明【JST・京大機械翻訳】

Proof of Concept for X-Ray Backscatter Imaging Tomosynthesis Using Spectral Detection

著者 (4件)： Rolison Lucas M. (Department of Materials Science and Engineering, Nuclear Engineering Program, University of Florida, Gainesville, FL 32611, USA) ,  Samant Sanjiv S. (Department of Radiation Oncology, University of Florida, Gainesville, FL 32611, USA) ,  Jordan Kelly A. ,  Baciak James E. (Department of Materials Science and Engineering, Nuclear Engineering Program, University of Florida, Gainesville, FL 32611, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： NSS/MIC  ページ： 1-3  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,X線後方散乱システムにおける検出器に関するエネルギー識別を利用することにより,その一般的な2Dラジオグラフ能力を超えたX線後方散乱イメージングの概念を証明した。本研究は,画像化された各深さに対する別々のスキャンを必要とする以前の研究に対する直接的な改善である。本研究では,ただ一つのスキャンで深さに敏感な画像を達成した。この技術は,医学的および非破壊的試験環境の両方で見出された材料から生成された画像に適用できる。このシステムは,研究中の物体から到来する後方散乱光子のフルエンスを測定する検出器で囲まれた放射のコリメートされた鉛筆ビームから構成されている。X線管は放射のスペクトルを放射し,光子の侵入深さはエネルギー依存性であるので,エネルギー識別を用いた検出器は物体内の異なる深さから発生する信号を測定する。確率的放射輸送コードMCNP6を用いて,この概念をシミュレートし試験した。シミュレーションした後方散乱システムは,150kVp鉛ターゲットX線管の後にモデル化した光子スペクトルを用いて,直径5cmの検出器で囲まれた5mmの鉛筆ビームを用いた。システムラスタは,それぞれ6cmと8cmの深さを埋め込まれた文字UとFを持つ組織で作られたファントム上でスキャンされた。レターUは空気で作られたが,文字Fはコンパクトな骨で作られた。測定された信号は,90keV未満の光子から成る1つとそれ以上の他の2つのエネルギーグループに識別された。得られた二つの画像は,深さに敏感な画像化能力を明確に証明し,低エネルギーは文字Uを示すだけであるが,高エネルギーは文字UとFの両方を示した。この技術は,より高い質問エネルギーが必要とされるが,工業材料に容易に適用できる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エネルギー依存性 ,  *X線 ,  モデリング ,  *後方散乱 ,  ラスタ ,  画像 ,  *画像処理 ,  *スペクトル ,  フルエンス ,  ファントム ,  検出器 ,  二次元 ,  光子
準シソーラス用語： 低エネルギー ,  画像化 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (7件)： スペクトル検出 ,  X線 ,  後方散乱 ,  イメージング ,  断層 ,  概念 ,  証明