特許

J-GLOBAL ID：201803000076942612

材料層の厚み測定方法

発明者： 久保内 昌敏 ,  草野 正大 ,  荒尾 与史彦 ,  酒井 哲也
出願人/特許権者： 国立大学法人東京工業大学 ,  非破壊検査株式会社
代理人 (3件)： 北村 光司 ,  高尾 俊雄 ,  島田 尚子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-161497
公開番号（公開出願番号）：特開2018-028521
出願日： 2016年08月19日
公開日（公表日）： 2018年02月22日
要約：

【課題】測定を迅速に行うことの可能な材料層の厚み測定方法を提供する。【解決手段】複合材料120は音速の異なる複数の材料を厚さ方向に層状に有し、複数の材料は第一音速の第一材料121と第二音速の第二材料122であり、超音波を斜角θ1で入射させることの可能な第一探触子20と、第一探触子20より斜角θ1で入射させた超音波を斜角で受信する第二探触子30とを備え、第二探触子30は受信角に幅を有し、複数種の入射角で3回以上の測定を行うことにより音速の異なる複数の材料の各層の厚みを求める。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

複合材料は音速の異なる複数の材料を厚さ方向に層状に有し、前記複数の材料は第一音速の第一材料と第二音速の第二材料であり、超音波を斜角で入射させることの可能な第一探触子と、前記第一探触子より斜角で入射させた超音波を斜角で受信する第二探触子とを備え、複数種の入射角で3回以上の測定を行うことにより音速の異なる前記複数の材料の各層の厚みを求める材料層の厚み測定方法であって、 前記第二探触子が受信角に幅を有する垂直探触子である材料層の厚み測定方法。

IPC (1件)：

G01B 17/02

FI (1件)：

G01B17/02 Z

Fターム (8件)：

2F068AA28 ,  2F068BB01 ,  2F068BB14 ,  2F068BB24 ,  2F068DD07 ,  2F068FF15 ,  2F068KK04 ,  2F068LL02