特許
J-GLOBAL ID：201803001610534505
電池制御システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
安部 誠
, 大井 道子
, 福富 俊輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-222622
公開番号（公開出願番号）：特開2018-081796
出願日： 2016年11月15日
公開日（公表日）： 2018年05月24日
要約：
【課題】電荷担体の析出に起因する容量劣化率を高精度に算出し得る電池制御システムを提供する。【解決手段】本発明に係る電池制御システムは、二次電池の抵抗増加率ΔRcurrentを測定するステップと、電池温度と各電池温度で保持された積算時間とを含む温度頻度分布情報に基づき、二次電池における材料の摩耗による材料劣化後の抵抗増加率ΔRxおよび容量劣化率ΔCxを推定するステップと、測定した抵抗増加率ΔRcurrentと推定した材料劣化後の抵抗増加率ΔRxとを比較するステップと、比較した抵抗増加率がΔRx≧ΔRcurrentの関係を満たす場合、第1マップを用いて、電荷担体の析出に起因する容量劣化率ΔCyを算出するステップと、比較した抵抗増加率がΔRx<ΔRcurrentの関係を満たす場合、第1マップとは特性が異なる第2マップを用いて、電荷担体の析出に起因する容量劣化率ΔCyを算出するステップとを実行するように構成されている。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
電荷担体を可逆的に吸蔵および放出可能な電極活物質を備える二次電池の電池制御システムであって、
前記二次電池の温度を検出する温度センサと、
前記二次電池に出入りする電流を検出する電流センサと、
前記二次電池の電圧を検出する電圧センサと、
前記電荷担体の析出に起因する容量劣化率ΔCyを算出する算出部と
を備え、
前記算出部は、
前記電流センサで検出された電流値と前記電圧センサで検出された電圧値とから該二次電池の抵抗増加率ΔRcurrentを測定するステップと、
前記温度センサによって検出された電池温度と各電池温度で保持された積算時間とを含む温度頻度分布情報に基づき、前記二次電池の材料摩耗による材料劣化後の抵抗増加率ΔRxおよび容量劣化率ΔCxを推定するステップと、
前記測定した抵抗増加率ΔRcurrentと前記推定した材料劣化後の抵抗増加率ΔRxとを比較するステップと、
前記比較した抵抗増加率がΔRx≧ΔRcurrentの関係を満たす場合、材料劣化後の抵抗増加率ΔRxとトータル容量劣化率(ΔCx+ΔCy)との相関を示す第1マップを用いて、前記推定した材料劣化後の抵抗増加率ΔRxおよび容量劣化率ΔCxから、前記電荷担体の析出に起因する容量劣化率ΔCyを算出するステップと、
前記比較した抵抗増加率がΔRx<ΔRcurrentの関係を満たす場合、前記電荷担体の過度な析出が生じていると判断し、材料劣化後の抵抗増加率ΔRxとトータル容量劣化率(ΔCx+ΔCy)との相関を示すマップであって前記第1マップとは特性が異なる第2マップを用いて、前記推定した材料劣化後の抵抗増加率ΔRxおよび容量劣化率ΔCxから、前記電荷担体の析出に起因する容量劣化率ΔCyを算出するステップと
を実行するように構成されている、電池制御システム。
IPC (3件)：
H01M 10/48
, H01M 10/42
, H02J 7/00
H01M10/48 P
, H01M10/48 301
, H01M10/42 P
, H02J7/00 Y
5G503BA01
, 5G503BB02
, 5G503CB11
, 5G503EA08
, 5G503FA06
, 5G503GD03
, 5G503GD06
, 5H030AA01
, 5H030AA10
, 5H030AS06
, 5H030AS08
, 5H030FF22
, 5H030FF42
, 5H030FF43
, 5H030FF44
