特許

J-GLOBAL ID：201803003024297327

撮像装置及びその制御方法

発明者： 石井 宏和
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-263677
公開番号（公開出願番号）：特開2013-148873
特許番号：特許第6239820号
出願日： 2012年11月30日
公開日（公表日）： 2013年08月01日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 複数の第1の画素部と、前記第1の画素部とは構造が異なり、かつ出力信号を使って相関演算可能な複数の第2の画素部とを含む撮像素子と、 前記第2の画素部からの出力信号を、周囲の前記第1の画素部の出力信号を補間して生成する補間処理を実行し、かつ前記第2の画素部に隣接する前記第1の画素部からの出力信号に対して前記補間処理とは異なる前記第2の画素部からのクロストーク成分の補正処理を実行する第1の信号処理手段とを有し、 前記第1の信号処理手段は、 撮像条件において第2の画素部が欠陥画素と判定される場合に前記補正処理を実行しない、 ことを特徴とする撮像装置。

IPC (6件)：

G02B 7/28 ( 200 6.01) ,  G03B 13/36 ( 200 6.01) ,  G02B 7/34 ( 200 6.01) ,  H04N 5/232 ( 200 6.01) ,  H04N 5/367 ( 201 1.01) ,  H04N 101/00 ( 200 6.01)

FI (6件)：

G02B 7/28 N ,  G03B 13/36 ,  G02B 7/34 ,  H04N 5/232 120 ,  H04N 5/367 ,  H04N 101:00

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 欠陥検出回路及び欠陥検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-028987   出願人：ソニー株式会社
• 撮像装置、画像選別方法及びプログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-103161   出願人：株式会社ニコン
• 画像ノイズ低減方法および撮像装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-016137   出願人：コニカミノルタフォトイメージング株式会社
• 撮像装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-298249   出願人：株式会社ニコン