特許
J-GLOBAL ID:201803003177443284
ナノポア測定サンプルを格納するアナログ・メモリの差分出力
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
小野 新次郎
, 山本 修
, 宮前 徹
, 中西 基晴
, 大房 直樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-515431
公開番号(公開出願番号):特表2018-535396
出願日: 2016年09月20日
公開日(公表日): 2018年11月29日
要約:
ナノポア測定回路を開示する。このナノポア測定回路は、ナノポア電極と、第1アナログ・メモリと、第2アナログ・メモリとを含む。また、このナノポア測定回路は、ナノポア電極を、第1アナログ・メモリおよび第2アナログ・メモリの内少なくとも1つに選択的に接続するスイッチ・ネットワークも含む。【選択図】図22
請求項(抜粋):
ナノポア測定回路であって、
ナノポア電極と、
第1アナログ・メモリと、
第2アナログ・メモリと、
前記ナノポア電極を前記第1アナログおよび第2アナログ・メモリの内少なくとも1つに選択的に接続するスイッチ・ネットワークと、
を含む、ナノポア測定回路。
IPC (4件):
G01N 27/00
, C12M 1/00
, C12M 1/34
, C12Q 1/686
FI (4件):
G01N27/00 Z
, C12M1/00 A
, C12M1/34 Z
, C12Q1/6869 Z
Fターム (28件):
2G060AA15
, 2G060AA19
, 2G060AD06
, 2G060AF02
, 2G060AF03
, 2G060AF20
, 2G060AG11
, 2G060AG15
, 2G060GA04
, 2G060HA01
, 2G060HC13
, 2G060KA09
, 4B029AA07
, 4B029AA27
, 4B029BB20
, 4B029CC01
, 4B029FA15
, 4B063QA13
, 4B063QQ28
, 4B063QQ42
, 4B063QQ52
, 4B063QQ67
, 4B063QR08
, 4B063QR32
, 4B063QR35
, 4B063QR43
, 4B063QS36
, 4B063QX04
引用特許:
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