特許
J-GLOBAL ID:201803003177443284

ナノポア測定サンプルを格納するアナログ・メモリの差分出力

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 小野 新次郎 ,  山本 修 ,  宮前 徹 ,  中西 基晴 ,  大房 直樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-515431
公開番号(公開出願番号):特表2018-535396
出願日: 2016年09月20日
公開日(公表日): 2018年11月29日
要約:
ナノポア測定回路を開示する。このナノポア測定回路は、ナノポア電極と、第1アナログ・メモリと、第2アナログ・メモリとを含む。また、このナノポア測定回路は、ナノポア電極を、第1アナログ・メモリおよび第2アナログ・メモリの内少なくとも1つに選択的に接続するスイッチ・ネットワークも含む。【選択図】図22
請求項(抜粋):
ナノポア測定回路であって、 ナノポア電極と、 第1アナログ・メモリと、 第2アナログ・メモリと、 前記ナノポア電極を前記第1アナログおよび第2アナログ・メモリの内少なくとも1つに選択的に接続するスイッチ・ネットワークと、 を含む、ナノポア測定回路。
IPC (4件):
G01N 27/00 ,  C12M 1/00 ,  C12M 1/34 ,  C12Q 1/686
FI (4件):
G01N27/00 Z ,  C12M1/00 A ,  C12M1/34 Z ,  C12Q1/6869 Z
Fターム (28件):
2G060AA15 ,  2G060AA19 ,  2G060AD06 ,  2G060AF02 ,  2G060AF03 ,  2G060AF20 ,  2G060AG11 ,  2G060AG15 ,  2G060GA04 ,  2G060HA01 ,  2G060HC13 ,  2G060KA09 ,  4B029AA07 ,  4B029AA27 ,  4B029BB20 ,  4B029CC01 ,  4B029FA15 ,  4B063QA13 ,  4B063QQ28 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ52 ,  4B063QQ67 ,  4B063QR08 ,  4B063QR32 ,  4B063QR35 ,  4B063QR43 ,  4B063QS36 ,  4B063QX04
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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