特許
J-GLOBAL ID：201803003855847471

特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置

発明者：
藤垣 元治

藤垣 元治 について

, 
赤塚 優一

赤塚 優一 について

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高田 大嗣

高田 大嗣 について


出願人/特許権者：
国立大学法人福井大学

国立大学法人福井大学 について


代理人 (1件)： あいわ特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-092144
公開番号（公開出願番号）：特開2018-189497
出願日： 2017年05月08日
公開日（公表日）： 2018年11月29日
要約：
【課題】特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置を提供する。【解決手段】複数の投影部5A、5Bから投影されたパターンまたは前記パターンの変化の少なくとも一方により得られた複数個の特徴量と空間座標との関係を予め求め、特徴量と空間座標の関係を用いて、計測対象物表面6に複数の投影部から投影されたパターンまたはパターンの変化から得られた特徴量から対象物表面の空間座標を求める。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
複数の投影部から投影されたパターンまたは前記パターンの変化の少なくとも一方により得られた複数個の特徴量と空間座標との関係を予め求めるステップ を含む計測対象物表面の空間座標を求める計測方法。
IPC (1件)：
G01B 11/00
FI (1件)：
G01B11/00 A
Fターム (24件)：
2F065AA01 ,  2F065AA04 ,  2F065AA51 ,  2F065AA53 ,  2F065BB01 ,  2F065BB05 ,  2F065DD02 ,  2F065DD03 ,  2F065DD06 ,  2F065DD14 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065FF61 ,  2F065GG23 ,  2F065HH07 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR08
引用特許：
審査官引用 (5件)
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