特許

J-GLOBAL ID：201803004087697038

変位測定用治具

発明者： 中野 幸長 ,  伊藤 始 ,  小森 徹 ,  松田 幸一
出願人/特許権者： 株式会社アイペック ,  公立大学法人 富山県立大学 ,  中日本ハイウェイ・エンジニアリング名古屋株式会社
代理人 (1件)： 廣澤 勲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-123555
公開番号（公開出願番号）：特開2017-227528
出願日： 2016年06月22日
公開日（公表日）： 2017年12月28日
要約：

【課題】ノギス等を使用して構造物の変位を容易かつ的確に測定することができ、シンプルな構造の変位測定用治具を提供する。【解決手段】第一治具22(1)は、第一の構造物14(1)の第一基準面20(1)に当接固定される第一基板38と、第一基板38と交差する向きの第一縦起立板28bと、第一基板38及び第一縦起立板28bに対してほぼ直角な第一横起立板26bとを一体に備える。第二治具22(2)は、第二の構造物14(2)の第二基準面20(2)に当接固定される第二基板48と、第二基板48と交差する向きの第二縦起立板44bと、第二基板48及び第二縦起立板44bに対してほぼ直角な第二横起立板42bとを一体に備える。第一及び第二治具22(1),22(2)は、取り付け状態で、第一及び第二縦起立板28,44bが互いに対向し、第一及び第二横起立板26b,42bが互いに対向する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第一の構造物の近傍に設置された第二の構造物の、前記第一の構造物に対する変位を測定するための第一及び第二治具が設けられ、 前記第一治具は、前記第一の構造物の表面の第一基準面に対して交差する方向に配置された第一縦起立板と、前記第一縦起立板に対して直角方向に配置された第一横起立板とが設けられ、 前記第二治具は、前記第二の構造物の表面の、前記第一基準面とほぼ面一な第二基準面に対して交差する方向に配置された第二縦起立板と、前記第二縦起立板に対して直角方向に配置された第二横起立板とが設けられ、 前記第一及び第二治具は、前記第一及び第二の構造物に取り付けられた状態で、前記第一縦起立板と前記第二縦起立板とが互いに対向し、前記第一横起立板と前記第二横起立板とが互いに対向することを特徴とする変位測定用治具。

IPC (1件)：

G01B 5/30

FI (1件)：

G01B5/30

Fターム (10件)：

2F062AA21 ,  2F062BC80 ,  2F062CC25 ,  2F062CC30 ,  2F062EE62 ,  2F062EE63 ,  2F062FF12 ,  2F062GG15 ,  2F062MM07 ,  2F062MM08

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 変位計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-193097   出願人：大成建設株式会社, 中大実業株式会社
• 層間変位計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-100493   出願人：株式会社間組