特許

J-GLOBAL ID：201803004343239638

荷電粒子放射線計測方法および荷電粒子放射線計測装置

発明者： 加田 渉 ,  三浦 健太 ,  花泉 修 ,  神谷 富裕 ,  佐藤 隆博 ,  須崎 純一 ,  山田 鈴弥
出願人/特許権者： 国立大学法人群馬大学 ,  国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 ,  デンカ株式会社
代理人 (1件)： 園田・小林特許業務法人
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016074813
公開番号（公開出願番号）：WO2017-038622
出願日： 2016年08月25日
公開日（公表日）： 2017年03月09日
要約：

【課題】耐熱性及び放射線照射耐性の高い放射線計測機器を提供する。【解決手段】SiAlON蛍光体を主成分とする蛍光体を含むシンチレータを用いる荷電粒子放射線計測方法および荷電粒子放射線計測装置を提供する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

SiAlON蛍光体を主成分とする蛍光体を含むシンチレータを用いる荷電粒子放射線計測方法。

IPC (4件)：

G01T 1/20 ,  G01T 1/202 ,  C09K 11/00 ,  C09K 11/64

FI (5件)：

G01T1/20 B ,  G01T1/20 C ,  G01T1/202 ,  C09K11/00 E ,  C09K11/64

Fターム (31件)：

2G188AA01 ,  2G188AA19 ,  2G188BB06 ,  2G188BB15 ,  2G188CC09 ,  2G188CC12 ,  2G188CC21 ,  2G188CC22 ,  2G188CC23 ,  2G188DD04 ,  2G188DD05 ,  2G188DD44 ,  2G188EE01 ,  4H001CA04 ,  4H001XA03 ,  4H001XA07 ,  4H001XA08 ,  4H001XA12 ,  4H001XA13 ,  4H001XA14 ,  4H001XA20 ,  4H001XA39 ,  4H001XB32 ,  4H001YA58 ,  4H001YA59 ,  4H001YA62 ,  4H001YA63 ,  4H001YA65 ,  4H001YA66 ,  4H001YA68 ,  4H001YA70