特許
J-GLOBAL ID：201803007279931114
粒径解析法および粒径解析プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人みのり特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-218662
公開番号（公開出願番号）：特開2018-077112
出願日： 2016年11月09日
公開日（公表日）： 2018年05月17日
要約：
【課題】粒子の集合体の粒径解析を簡単にかつ高速で行えるようにする。【解決手段】単層状態で密集した粒子の集合体が撮影された画像データをグレースケール変換、フィルタ処理および二値化した後、粒子の基準形状を特徴づける形状因子の所定の閾値に基づき、基準形状に一致しない画像領域を除去して画像データ中に粒子画像のみを残す。次に、各粒子画像を膨張処理し、膨張処理した各粒子画像において、粒子の基準形状を検出し、その検出結果に基づき粒子の中心の位置座標および粒子サイズを検出し、さらには、平均粒子半径を算出する。得られた粒子の中心の位置座標および粒子サイズのデータセットに基づき、各一対の粒子の中心間距離を平均粒子半径と比較し、中心間距離が平均粒子半径よりも小さい場合は、当該一対の粒子のうちの一方の粒子のデータをデータセットから除去する。残ったデータセットに基づいて粒径解析する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
単層の状態で密集した粒子の集合体が撮影された画像データを画像処理することによって、前記粒子の集合体の粒径解析を行う方法であって、
(1)前記画像データのキャリブレーションを行うステップと、
(2)前記画像データをグレースケール変換するステップと、
(3)前記画像データを、フィルタ処理することによって、前記画像データを構成する画像領域間の境界を強調するステップと、
(4)前記画像データを二値化するステップと、
(5)前記粒子の基準形状を特徴づける形状因子の所定の閾値に基づき、前記基準形状に一致しない前記画像領域を前記画像データから除去して前記画像データ中に粒子画像のみを残すステップと、
(6)前記粒子画像のそれぞれを膨張処理するステップと、
(7)前記粒子画像のそれぞれにおいて、前記粒子の基準形状を検出し、前記検出の結果に基づき当該粒子の中心の位置座標および粒子サイズを検出するステップと、
(8)前記粒子サイズから算出した粒子半径を平均することによって、平均粒子半径を算出するステップと、
(9)前記ステップ(7)で得られた前記粒子の前記中心の位置座標および前記粒子サイズのデータセットに基づき、各一対の前記粒子の中心間距離を前記平均粒子半径と比較し、前記中心間距離が前記平均粒子半径よりも小さい場合は、当該一対の粒子のうちの一方の粒子のデータを前記データセットから除去するステップと、
(10)前記データセットに基づいて粒径解析を行うステップ
を順次実行することを特徴とする方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N15/02 C
, G06T7/60 150J
5L096AA02
, 5L096AA03
, 5L096BA06
, 5L096CA02
, 5L096EA02
, 5L096EA33
, 5L096EA37
, 5L096EA43
, 5L096FA04
, 5L096FA06
, 5L096FA32
, 5L096FA59
, 5L096FA62
, 5L096FA66
, 5L096FA69
, 5L096GA02
, 5L096GA51
, 5L096GA55
, 5L096MA03
