特許

J-GLOBAL ID：201803007669365993

3次元測定機

発明者： 外川 陽一
出願人/特許権者： 株式会社東京精密
代理人 (1件)： 金山 義信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-001758
公開番号（公開出願番号）：特開2018-077249
出願日： 2018年01月10日
公開日（公表日）： 2018年05月17日
要約：

【課題】 測定者による測定ばらつきを低減させる。【解決手段】 手動でプローブをワークの測定ポイントに接触させて測定する3次元測定機であって、前記プローブの操作が、前記測定ポイント毎に設定された所定の測定条件からはずれた操作である誤操作の場合に警告を発する警告手段を備え、前記測定条件は、前記測定ポイント毎にパートプログラムから読み込まれることを特徴とし、前記誤操作が、以下の示す(1)〜(2)のうち少なくとも1以上の内容であることもできる3次元測定機。(1)前記プローブの移動速度が所定の速度以上であること。(2)前記プローブの移動の加速度が所定の加速度以上であること。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

手動でプローブをワークの測定ポイントに接触させて測定する3次元測定機であって、 前記プローブの操作が、前記測定ポイント毎に設定された所定の測定条件からはずれた操作である誤操作の場合に警告を発する警告手段を備え、 前記測定条件は、前記測定ポイント毎にパートプログラムから読み込まれることを特徴とする3次元測定機。

IPC (1件)：

G01B 5/008

FI (1件)：

G01B5/008

Fターム (14件)：

2F062AA04 ,  2F062CC11 ,  2F062CC20 ,  2F062CC30 ,  2F062DD03 ,  2F062DD20 ,  2F062DD40 ,  2F062EE01 ,  2F062EE07 ,  2F062EE34 ,  2F062FF05 ,  2F062FF26 ,  2F062LL11 ,  2F062LL20

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 三次元測定機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-250366   出願人：株式会社ミツトヨ
• 多関節型座標測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-054218   出願人：株式会社小坂研究所
• 三次元測定機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-041168   出願人：株式会社ミツトヨ
• 手動操作型三次元測定機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-238372   出願人：株式会社ミツトヨ