特許
J-GLOBAL ID：201803008598426763

画像処理装置及び画像処理方法

発明者：
鈴木 聡史

鈴木 聡史 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  大塚 康弘 ,  高柳 司郎 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-112147
公開番号（公開出願番号）：特開2018-137829
出願日： 2018年06月12日
公開日（公表日）： 2018年08月30日
要約：
【課題】 分割画素を有する撮像素子を用いた撮像装置から出力される出力信号に対する、欠陥画素信号の検出精度を上げること。【解決手段】 マイクロレンズと、該マイクロレンズを共有する複数の光電変換手段とを各々が有する複数の画素を備えた撮像素子から出力される出力信号に対して欠陥に関する判定を行う画像処理装置であって、前記複数の光電変換手段のうち、判定対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記判定対象の光電変換手段を有する画素の周辺の画素に含まれる、前記判定対象の光電変換手段と前記マイクロレンズに対する位置関係が対応する光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記判定対象の光電変換手段の欠陥に関する判定結果を出力する判定手段を有することを特徴とする画像処理装置。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
マイクロレンズと、該マイクロレンズを共有する複数の光電変換手段とを各々が有する複数の画素を備えた撮像素子から出力される出力信号に対して欠陥に関する判定を行う画像処理装置であって、 前記複数の光電変換手段のうち、判定対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記判定対象の光電変換手段を有する画素の周辺の画素に含まれる、前記判定対象の光電変換手段と前記マイクロレンズに対する位置関係が対応する光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記判定対象の光電変換手段の欠陥に関する判定結果を出力する判定手段を有することを特徴とする画像処理装置。
IPC (2件)：
H04N 5/367 ,  H04N 5/369
FI (2件)：
H04N5/367 ,  H04N5/369 600
Fターム (5件)：
5C024CX22 ,  5C024EX43 ,  5C024EX52 ,  5C024GX14 ,  5C024HX29
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM