特許

J-GLOBAL ID：201803008671813797

分析装置

発明者： 太田 禎生 ,  佐藤 一誠 ,  藤生 克仁 ,  山口 聡子 ,  脇 嘉代 ,  板橋 踊子 ,  堀▲崎▼ 遼一
出願人/特許権者： 国立大学法人 東京大学 ,  国立大学法人大阪大学
代理人 (3件)： 棚井 澄雄 ,  飯田 雅人 ,  大浪 一徳
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016082089
公開番号（公開出願番号）：WO2017-073737
出願日： 2016年10月28日
公開日（公表日）： 2017年05月04日
要約：

光源からの光が照射される光照射領域に存在する観測対象物からの散乱光,透過光,蛍光,又は電磁波を受け取り,電気信号に変換する受光部から出力される前記電気信号の時間軸に基づいて抽出される信号に基づいて前記観測対象物を分析する分析部を備える分析装置。

請求項（抜粋）：

光源からの光が照射される光照射領域に存在する観測対象物からの散乱光,透過光,蛍光,又は電磁波を受け取り,電気信号に変換する受光部から出力される前記電気信号の時間軸に基づいて抽出される信号に基づいて前記観測対象物を分析する分析部 を備える分析装置。

IPC (3件)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/17

FI (5件)：

G01N15/14 K ,  G01N15/14 D ,  G01N15/14 C ,  G01N21/64 Z ,  G01N21/17 Z

Fターム (18件)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043EA14 ,  2G043FA01 ,  2G043LA01 ,  2G043NA01 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB09 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE03 ,  2G059EE07 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10