特許

J-GLOBAL ID：201803011335803466

変位を測定する方法

発明者： 藤垣 元治 ,  村田 頼信 ,  冨田 大樹 ,  森本 吉春 ,  柾谷 明大 ,  楠 芳之 ,  栗林 賢一 ,  得津 明弘 ,  矢島 秀治
出願人/特許権者： 国立大学法人福井大学 ,  国立大学法人 和歌山大学 ,  4Dセンサー株式会社 ,  ジェイアール西日本コンサルタンツ株式会社
代理人 (1件)： あいわ特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-159212
公開番号（公開出願番号）：特開2018-028439
出願日： 2016年08月15日
公開日（公表日）： 2018年02月22日
要約：

【課題】橋桁等の測定対象物の変位を容易に計測する計測方法を提供する。【解決手段】本発明による変位計測は、先ず、測定対象物の撮像をおこない、次に、測定対象物の撮影画像に1次元フーリエ変換(FFT)を適用し、さらに、測定対象物の横幅もしくは縦幅に対応する空間周波数成分に対して1次元逆フーリエ変換(IFFT)を適用して位相解析を行い、測定対象物の変位前後の位相解析による位相の位相差から測定対象物の変位量を算出する。【選択図】図11

請求項（抜粋）：

測定対象物の変位前に撮像して得られた前記測定対象物の画像から変位解析方向の1ラインの第1ライン画像データを抽出し、 前記測定対象物の変位後に撮像して得られた前記測定対象物の画像から変位解析方向の1ラインの第2ライン画像データを抽出し、 前記第1ライン画像データと前記第2ライン画像データにそれぞれ1次元フーリエ変換を行ない、 前記1次元フーリエ変換により得られた空間周波数成分のうち前記測定対象物に対応する空間周波数成分に対して1次元逆フーリエ変換により位相解析を行ない、前記変位前と前記変位後の位相差を用いて、前記測定対象物の変位量を測定する方法。

IPC (3件)：

G01B 11/02 ,  G01B 11/16 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G01B11/02 H ,  G01B11/16 H ,  G06T7/00 300H

Fターム (19件)：

2F065AA09 ,  2F065AA22 ,  2F065AA65 ,  2F065CC14 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ39 ,  2F065UU05 ,  5L096BA03 ,  5L096EA33 ,  5L096EA39 ,  5L096FA23 ,  5L096FA32 ,  5L096GA10

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 磁気記録トラック検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-196251   出願人：松下電器産業株式会社
• 歯の表面形状および色合いの撮像のための装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-124406   出願人：ケアストリームヘルスインク