特許
J-GLOBAL ID:201803012705880240
半導体パッケージ及び半導体パッケージの製造方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
恩田 博宣
, 恩田 誠
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-278247
公開番号(公開出願番号):特開2014-123622
特許番号:特許第6290534号
出願日: 2012年12月20日
公開日(公表日): 2014年07月03日
請求項(抜粋):
【請求項1】 同一平面上に形成された多数の配線パターンと、
前記配線パターンの下面側に実装された第1電子部品と、
前記配線パターンの上面に実装された第2電子部品と、
前記配線パターン同士を絶縁し、前記配線パターン同士を接着するとともに、前記第1電子部品全体と前記配線パターンの側面及び下面とを被覆する1層の絶縁層と、を有し、
前記配線パターンの上面は前記絶縁層から露出されており、
前記第1電子部品と前記第2電子部品は少なくとも一部が、共通の前記配線パターンを介して、平面視で重なる位置で直線的に接続され、
前記配線パターンの一部は、平面方向に引き回されたパターンを有していることを特徴とする半導体パッケージ。
IPC (3件):
H01L 25/065 ( 200 6.01)
, H01L 25/07 ( 200 6.01)
, H01L 25/18 ( 200 6.01)
FI (1件):
引用特許:
出願人引用 (8件)
全件表示
審査官引用 (8件)
全件表示
前のページに戻る