特許
J-GLOBAL ID：201803013315305799

形状状態推定装置、形状モデル生成装置、及びプログラム

発明者：
小島 真一

小島 真一 について


出願人/特許権者：
株式会社豊田中央研究所

株式会社豊田中央研究所 について


代理人 (2件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-176926
公開番号（公開出願番号）：特開2015-046018
特許番号：特許第6260146号
出願日： 2013年08月28日
公開日（公表日）： 2015年03月12日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 推定対象物を撮像する撮像手段によって撮像された前記推定対象物を表す画像から、特徴点を検出する特徴点検出手段と、 推定対象物の形状に関する基準の状態である物体であって、前記推定対象物と同一種類の物体を表す複数の画像に基づいて求められる、物体の個体差を表す個体差基底と、前記推定対象物と同一種類の物体を表す複数の画像に基づいて求められる、物体の個体内の変動を表す個体内変動基底及び前記物体の個体差と個体内変動とが混在した混在基底とを含む少なくとも3種類の基底を用いて表される、前記推定対象物の形状に関する状態を識別するための予め学習された形状モデルを用いて、前記特徴点検出手段によって検出された特徴点に基づいて、前記画像が表す前記推定対象物の形状に関する状態を推定し、又は前記状態を表すパラメータを推定する推定手段と、 を含み、 前記推定手段は、前記特徴点検出手段によって検出された特徴点に基づいて、前記推定対象物の3次元形状における回転を表す回転パラメータ及び並進を表す並進パラメータを推定し、 前記特徴点検出手段によって検出された特徴点と、前記推定された前記回転パラメータ及び前記並進パラメータとに基づいて、前記個体差基底の係数パラメータを推定し、 前記特徴点検出手段によって検出された特徴点と、前記推定された前記回転パラメータ及び前記並進パラメータと、前記個体差基底の係数パラメータとに基づいて、前記個体内変動基底の係数パラメータ、及び前記混在基底の係数パラメータを推定し、 前記特徴点検出手段によって検出された特徴点と、前記推定された前記回転パラメータ及び前記並進パラメータと、前記個体差基底の係数パラメータと、前記個体内変動基底の係数パラメータ、及び前記混在基底の係数パラメータとに基づいて、前記画像が表す前記推定対象物の形状に関する状態を推定し、又は前記状態を表すパラメータを推定する形状状態推定装置。
IPC (3件)：
G06T 7/00 ( 201 7.01) ,  A61B 5/107 ( 200 6.01) ,  A61B 5/16 ( 200 6.01)
FI (4件)：
G06T 7/00 350 B ,  G06T 7/00 660 A ,  A61B 5/10 300 A ,  A61B 5/16
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)

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