特許
J-GLOBAL ID：201803014426211110

荷電粒子放射線計測方法および荷電粒子放射線計測装置

発明者：
加田 渉

加田 渉 について

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三浦 健太

三浦 健太 について

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花泉 修

花泉 修 について

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山田 鈴弥

山田 鈴弥 について

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須崎 純一

須崎 純一 について

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田中 基

田中 基 について


出願人/特許権者：
国立大学法人群馬大学

国立大学法人群馬大学 について

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デンカ株式会社

デンカ株式会社 について


代理人 (1件)： 園田・小林特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-036154
公開番号（公開出願番号）：特開2018-141705
出願日： 2017年02月28日
公開日（公表日）： 2018年09月13日
要約：
【課題】耐熱性及び放射線照射耐性の高い荷電粒子放射線計測方法、シンチレータおよび荷電粒子放射線計測装置を提供する。【解決手段】窒化物蛍光体を主成分とする蛍光体を含むシンチレータを用いる荷電粒子放射線計測方法とする。窒化物蛍光体が、CaAlSiN3:Eu蛍光体(CASN蛍光体)、(Sr、Ca)AlSiN3:Eu蛍光体(SCASN蛍光体)及び(Mg、Ca、Sr、Ba)2Si5N8:Eu蛍光体(258蛍光体)から選択される1種以上を含むことが好ましい。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
窒化物蛍光体を主成分とする蛍光体を含むシンチレータを用いる荷電粒子放射線計測方法。
IPC (4件)：
G01T 1/20 ,  C09K 11/64 ,  G01T 1/202 ,  G21C 17/12
FI (4件)：
G01T1/20 B ,  C09K11/64 ,  G01T1/202 ,  G21C17/12 B
Fターム (21件)：
2G075AA01 ,  2G075FA18 ,  2G188AA01 ,  2G188AA20 ,  2G188BB05 ,  2G188BB06 ,  2G188BB15 ,  2G188CC09 ,  2G188CC12 ,  2G188CC22 ,  2G188CC23 ,  2G188DD44 ,  4H001CA04 ,  4H001XA07 ,  4H001XA12 ,  4H001XA13 ,  4H001XA14 ,  4H001XA20 ,  4H001XA38 ,  4H001XA56 ,  4H001YA63
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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