特許
J-GLOBAL ID:201803014853901179
三次元の対象物の積層造形的な製造の為の方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
江崎 光史
, 鍛冶澤 實
, 篠原 淳司
, 中村 真介
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-016854
公開番号(公開出願番号):特開2018-145522
出願日: 2018年02月02日
公開日(公表日): 2018年09月20日
要約:
【課題】三次元の対象物の積層造形的な製造の為の装置を提供する。【解決手段】三次元の対象物の積層造形的な製造の為の装置(1)であって、エネルギー照射(4)によって硬化可能な構成材料(3)からなる構成材料層の漸次的、層ごと、選択的な露光と、これにともないあらわれる漸次的、層ごと、選択的な硬化の為のエネルギー照射(4)の発生の為に設けられている露光装置(6)を有し、温度の測定の為の測定装置(11)を有する装置において、測定装置(11)が、測定点(P)において温度を測定するために設けられており、測定点(P)が、部分的に硬化された構成材料(3)から形成される三次元の対象物(2)に、又は積層造形的に製造すべき対象物の積層造形的な製造の枠内で生じる少なくとも一つの対象物部分に割り当てられている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
エネルギー照射(4)によって硬化可能な構成材料(3)から成る構成材料層の、漸次的、層ごと、選択的な露光と、これにともなってあらわれる漸次的、層ごと、選択的な硬化による三次元の対象物の積層造形的な製造の為の装置(1)であって、
エネルギー照射(4)によって硬化可能な構成材料(3)からなる構成材料層の漸次的、層ごと、選択的な露光と、これにともないあらわれる漸次的、層ごと、選択的な硬化の為のエネルギー照射(4)の発生の為に設けられている露光装置(6)を有し、
温度の測定の為の測定装置(11)を有する装置において、
測定装置(11)が、少なくとも一つの測定点(P)において温度を測定するために設けられており、その際、測定点(P)が、少なくとも部分的に硬化された構成材料(3)から形成される少なくとも一つの三次元の対象物(2)に、又は積層造形的に製造すべき対象物の積層造形的な製造の枠内で生じる少なくとも一つの対象物部分に割り当てられていることを特徴とする装置。
IPC (9件):
B22F 3/105
, B29C 64/153
, B33Y 30/00
, B29C 64/268
, B33Y 10/00
, B33Y 50/02
, B29C 64/30
, B22F 3/16
, B28B 1/30
FI (9件):
B22F3/105
, B29C64/153
, B33Y30/00
, B29C64/268
, B33Y10/00
, B33Y50/02
, B29C64/30
, B22F3/16
, B28B1/30
Fターム (14件):
4F213WA25
, 4F213WB01
, 4F213WL12
, 4F213WL67
, 4F213WL76
, 4F213WL85
, 4F213WL87
, 4F213WL96
, 4G052DA02
, 4G052DB12
, 4G052DC06
, 4K018CA44
, 4K018EA51
, 4K018EA60
引用特許: