特許
J-GLOBAL ID:201803015168309506
赤外線画像取込装置における偽画素の補正
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
河野 英仁
, 河野 登夫
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-567334
公開番号(公開出願番号):特表2018-525878
出願日: 2016年06月10日
公開日(公表日): 2018年09月06日
要約:
【解決手段】本発明は、赤外線を感知可能な画像取込デバイスの画素アレイの偽画素を補正する方法に関する。本方法では、第1の入力画像(RAW) を受けて、ゲイン値及びオフセット値を適用することにより第1の入力画像を補正し、補正された第1の入力画像内で少なくとも1つの偽画素を検出して、少なくとも1つの偽画素を偽画素のリスト(LSPUR) に追加し、第2の入力画像(RAW) を受けて、ゲイン値及びオフセット値を適用することにより第2の入力画像を補正し、第1及び第2の補正された入力画像に基づき少なくとも1つの偽画素に関してゲイン補正値(sGain) 及びオフセット補正値(sOff)を計算する。
請求項(抜粋):
赤外線を感知可能な撮像デバイスの画素アレイ(102) の偽画素を補正する方法であって、
前記撮像デバイスの処理デバイス(202) によって、前記画素アレイ(102) によって取り込まれた第1の入力画像(RAW) を受けて、前記第1の入力画像の画素の画素値にゲイン値及びオフセット値を適用することにより、前記第1の入力画像を補正し、
補正された第1の入力画像内で少なくとも1つの偽画素を検出して、前記少なくとも1つの偽画素を偽画素のリスト(LSPUR) に追加し、
前記処理デバイス(202) によって、前記画素アレイ(102) によって取り込まれた第2の入力画像(RAW) を受けて、前記第2の入力画像の画素の画素値にゲイン値及びオフセット値を適用することにより、前記第2の入力画像を補正し、
補正された前記第1及び第2の入力画像に基づき、前記少なくとも1つの偽画素に関してゲイン補正値(sGain) 及びオフセット補正値(sOff)を計算することを特徴とする方法。
IPC (4件):
H04N 5/367
, G01J 1/42
, G01J 1/44
, H04N 5/33
FI (4件):
H04N5/367 500
, G01J1/42 B
, G01J1/44 E
, H04N5/33
Fターム (13件):
2G065AA04
, 2G065AB02
, 2G065BA12
, 2G065BA14
, 2G065BA34
, 2G065BC10
, 2G065BC11
, 2G065BC14
, 2G065BC16
, 2G065DA18
, 5C024AX06
, 5C024CX22
, 5C024CX23
引用特許: