半導体集積回路、発振器、電子機器、移動体および半導体集積回路の検査方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：布施行夫 , 大渕美千栄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-024648
公開番号（公開出願番号）：特開2014-153260
特許番号：特許第6304472号
出願日： 2013年02月12日
公開日（公表日）： 2014年08月25日
請求項（抜粋）：

【請求項1】発振素子を発振させて発振信号を生成する発振回路と、前記発振信号に基づく信号を分周して分周信号を出力する分周回路と、前記発振回路をリセットせずに前記分周回路をリセットする第1の信号を生成するリセット生成回路と、を含み、前記リセット生成回路は、前記リセット生成回路の入力信号に基づいて、前記第1の信号と、前記発振回路へのイネーブル信号である第2の信号とを生成する半導体集積回路。

IPC (1件)：