特許
J-GLOBAL ID：201803016161399514
半導体装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-156791
公開番号（公開出願番号）：特開2015-025781
特許番号：特許第6225541号
出願日： 2013年07月29日
公開日（公表日）： 2015年02月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 第1の回路と、
前記第1の回路の電源電位端子と電源電位ノードとの間又は前記第1の回路の基準電位端子と基準電位ノードとの間に設けられる第1の電源スイッチと、
前記第1の電源スイッチの制御端子の電圧を制御する電源スイッチ制御回路と、
試験端子と、
第1の試験制御回路とを有し、
前記試験端子がオープン状態であり、かつ前記第1の回路の電源電位端子に電源電位が供給されている場合には、前記第1の電源スイッチは、前記電源スイッチ制御回路の制御に応じてオン又はオフし、
前記試験端子に電圧が印加され、かつ前記第1の回路の電源電位端子に前記電源電位より低い電圧が供給されている場合には、前記第1の試験制御回路は、前記第1の電源スイッチがオンするための電圧を前記第1の電源スイッチの制御端子に印加し、前記第1の電源スイッチはオンすることを特徴とする半導体装置。
IPC (3件)：
G01R 31/28 ( 200 6.01)
, H01L 21/822 ( 200 6.01)
, H01L 27/04 ( 200 6.01)
G01R 31/28 V
, H01L 27/04 T
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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