特許
J-GLOBAL ID：201803019830137341
電子機器、及びテスト方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
家入 健
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-217275
公開番号（公開出願番号）：特開2015-079419
特許番号：特許第6271942号
出願日： 2013年10月18日
公開日（公表日）： 2015年04月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 チェックテストの対象となる対象回路と、
前記対象回路に対する入力データと出力データとを比較することでチェックテストを行う制御部と、
チェックテスト結果が異常である場合に、前記対象回路に供給する駆動電圧を変化する電圧制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記駆動電圧を監視し、前記チェックテスト結果が異常である場合、前記駆動電圧が正常電圧範囲内にあるか否かを判定し、前記駆動電圧が正常電圧範囲内にあると判定する場合、前記電圧制御部が供給可能な最も高い駆動電圧である最大駆動可能電圧まで昇圧制御する調整指示を前記電圧制御部に送信し、前記駆動電圧が正常電圧範囲外にあると判定する場合、正常電圧範囲内に電圧制御する調整指示を前記電圧制御部に送信し、
前記電圧制御部が前記調整指示に従い前記駆動電圧を変化した後、前記対象回路の前記チェックテストを行う電子機器。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G06F 11/22 673 G
, G06F 11/22 607 Z
