特許
J-GLOBAL ID:201803020530097230

幅広い深度及び詳細なビューを備えた超音波システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人M&Sパートナーズ
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-512908
公開番号(公開出願番号):特表2018-527096
出願日: 2016年09月09日
公開日(公表日): 2018年09月20日
要約:
本発明は、関心領域を含む立体測定領域を撮像するための超音波システムであって、前記立体測定領域にわたって可変周波数範囲内の超音波ビームをステアリング可能な複数のCMUTトランスデューサのアレイを有するプローブと、超音波ビームステアリングを制御し、前記立体測定領域の超音波画像データを提供する、前記アレイに結合されたビームフォーマと、前記周波数範囲内で、前記CMUTトランスデューサの動作周波数を変化させる、前記ビームフォーマに結合されたトランスデューサ周波数コントローラであって、前記周波数コントローラは、前記立体測定領域内でステアリングされる前記超音波ビームについて、前記動作周波数を第1の周波数に設定する、トランスデューサ周波数コントローラと、前記超音波画像データに基づき超音波画像を生成する画像プロセッサとを備える超音波システムに関する。システムはさらに、前記超音波画像データに基づき関心領域を識別することを可能にする関心領域(ROI)識別部であって、前記立体測定領域内の前記関心領域を示す識別データを生成する、ROI識別部を備え、前記トランスデューサ周波数コントローラはさらに、前記識別データに基づき、前記関心領域内でステアリングされる前記超音波ビームについて、前記動作周波数を第2の周波数に変更し、前記第2の周波数は、前記第1の周波数よりも高い。
請求項(抜粋):
関心領域を含む立体測定領域を撮像するための超音波システムであって、 前記立体測定領域にわたって可変周波数範囲内の超音波ビームをステアリング可能な複数のCMUTトランスデューサのアレイを有する、腔内撮像に適したプローブと、 超音波ビームステアリングを制御し、前記立体測定領域の超音波画像データを提供する、前記アレイに結合されたビームフォーマと、 前記可変周波数範囲内で、前記CMUTトランスデューサの動作周波数を変化させる、前記ビームフォーマに結合されたトランスデューサ周波数コントローラであって、前記周波数コントローラは、前記立体測定領域内でステアリングされる超音波ビームについて、前記動作周波数を第1の周波数に設定する、トランスデューサ周波数コントローラと、 前記超音波画像データに基づき超音波画像を生成する画像プロセッサと、
IPC (1件):
A61B 8/12
FI (1件):
A61B8/12
Fターム (15件):
4C601BB03 ,  4C601BB06 ,  4C601EE04 ,  4C601EE22 ,  4C601FF08 ,  4C601GA19 ,  4C601GA20 ,  4C601GB04 ,  4C601GB06 ,  4C601HH15 ,  4C601HH17 ,  4C601HH36 ,  4C601JC20 ,  4C601KK24 ,  4C601KK45
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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