特許

J-GLOBAL ID：201803020800350421

光学機器のキャリブレーション法

発明者： 大谷 幸利 ,  柴田 秀平
出願人/特許権者： 国立大学法人宇都宮大学
代理人 (4件)： 志賀 正武 ,  鈴木 史朗 ,  飯田 雅人 ,  小林 淳一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-180021
公開番号（公開出願番号）：特開2018-044865
出願日： 2016年09月14日
公開日（公表日）： 2018年03月22日
要約：

【課題】複屈折及び偏光特性の計測精度の向上を図るための偏光子アレイのキャリブレーション法を提供する。【解決手段】配向された方位の光を通過させる偏光部分が互いに異なる方位に配向されて複数配列された偏光子4を備えた光学機器28のキャリブレーション法であって、偏光部分がそれぞれ配向された方位にそれぞれ応じた直線偏光を偏光子4に照射し、偏光子4を通過した後の直線偏光の光強度を偏光部分毎に測定する工程と、偏光子4を通過した後の直線偏光の光強度に基づいて、偏光部分毎の直線二色性を算出する工程と、を備える。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

配向された方位の光を通過させる偏光部分が互いに異なる方位に配向されて複数配列された偏光子を備えた光学機器のキャリブレーション法であって、 前記偏光部分がそれぞれ配向された方位にそれぞれ応じた直線偏光を前記偏光子に照射し、前記偏光子を通過した後の前記直線偏光の光強度を前記偏光部分毎に測定する工程と、 前記偏光子を通過した後の前記直線偏光の光強度に基づいて、前記偏光部分毎の直線二色性を算出する工程と、 を備える光学機器のキャリブレーション法。

IPC (2件)：

G01J 4/04 ,  G02B 5/30

FI (2件)：

G01J4/04 Z ,  G02B5/30

Fターム (2件)：

2H149AA22 ,  2H149BA02

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 偏光計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-305680   出願人：浜本哲也, 科学技術振興事業団

引用文献：

審査官引用 (2件)

• “Measurement of the radiometric and polarization characteristics of a microgrid polarizer infrared
• “偏光カメラの二色性キャリブレーション法”