特許
J-GLOBAL ID：201803020929307646
画像検査方法及び装置、プログラム並びに画像記録システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-193973
公開番号（公開出願番号）：特開2018-054560
出願日： 2016年09月30日
公開日（公表日）： 2018年04月05日
要約：
【課題】画像形成要素の不良を補償する処理が施された記録物について欠陥の誤検出を抑制し得る画像検査方法及び装置、プログラム並びに画像記録システムを提供する。【解決手段】画像形成要素の不良に起因する欠陥を補償する補償処理を実施する画像記録システムを用いて記録された記録物を撮像装置によって撮像して得られる検査画像のデータを取得する工程(S10)と、基準画像のデータを取得する工程(S12)と、検査画像のデータを基準画像のデータと比較して検査画像の各位置における欠陥の有無を判定する欠陥検出工程(S14)と、を含む画像検査方法であって、欠陥検出工程は、補償処理を適用した画像形成要素の不良の補償位置情報32に基づき、補償適用領域と補償適用領域以外の補償非適用領域とで欠陥の検出性能を異ならせる処理を含む。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
複数の画像形成要素を備えた画像記録システムであって前記画像形成要素の不良に起因する欠陥を補償する補償処理を実施する前記画像記録システムを用いて記録された記録物を撮像装置によって撮像して得られる検査画像のデータを取得する検査画像取得工程と、
前記記録物の欠陥を検出するための基準となる基準画像のデータを取得する基準画像取得工程と、
前記検査画像のデータを前記基準画像のデータと比較することにより、前記検査画像の各位置における欠陥の有無を判定する欠陥検出工程と、を含み、
前記欠陥検出工程は、前記補償処理を適用した前記画像形成要素の不良の補償位置情報に基づき、補償適用領域と補償適用領域以外の補償非適用領域とで欠陥の検出性能を異ならせる処理を含む画像検査方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N21/892 A
, B41J2/01 207
, B41J2/01 209
2C056EA08
, 2C056EB27
, 2C056EB40
, 2C056FA13
, 2C056HA58
, 2G051AA34
, 2G051AB02
, 2G051AC21
, 2G051CA04
, 2G051DA01
, 2G051DA05
, 2G051EA08
, 2G051EA11
, 2G051EA14
, 2G051EA23
, 2G051ED11
