文献

J-GLOBAL ID：201902117744955754   整理番号：19S2498751

Charge collection control using retrograde well tested by proton microprobe irradiation

著者 (7件)： Sayama, Hirokazu (Research Center for Extreme Materials, Osaka University) ,  Takai, Mikio (Research Center for Extreme Materials, Osaka University) ,  Klmura, Hiroshi (VLSI Laboratory, Mitsubishi Electric Corporation) ,  Ohno, Yoshikazu (VLSI Laboratory, Mitsubishi Electric Corporation) ,  Satoh, Shinichi (VLSI Laboratory, Mitsubishi Electric Corporation) ,  Sonoda, Kenichirou (VLSI Laboratory, Mitsubishi Electric Corporation) ,  Kotani, Norihiko (VLSI Laboratory, Mitsubishi Electric Corporation)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics
巻： 32  号： 12 S  ページ： 6287-6290  発行年： 1993年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 0021-4922 
言語： 英語 (EN)