文献
J-GLOBAL ID：201902200560032488   整理番号：19S1706504

The combinational or selective usage of the laser SQUID microscope, the non-bias laser terahertz emission microscope, and fault simulations in non-electrical-contact fault localization

  • 出版者サイト 複写サービスで全文入手
  • 高度な検索・分析はJDreamⅢで
著者 (6件)：
Nikawa, Kiyoshi

Nikawa, Kiyoshi について

(Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University)

Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University について

, 
Miura, Katsuyoshi

Miura, Katsuyoshi について

(Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University)

Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University について

, 
Midoh, Yoshihiro

Midoh, Yoshihiro について

(Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University)

Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University について

, 
Nakamae, Koji

Nakamae, Koji について

(Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University)

Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University について

, 
Yamashita, Masatsugu

Yamashita, Masatsugu について

(Terahertz Sensing and Imaging Laboratory, RIKEN Sendai)

Terahertz Sensing and Imaging Laboratory, RIKEN Sendai について

, 
Matsumoto, Toru

Matsumoto, Toru について

(Hamamatsu Photonics)

Hamamatsu Photonics について


資料名：
Microelectronics Reliability

Microelectronics Reliability について


巻： 51  号： 9-11  ページ： 1624-1631  発行年： 2011年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 0026-2714  CODEN： MCRLA 
発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
LASER

LASER について

, 
SQUID

SQUID について


前のページに戻る

TOP

BOTTOM