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J-GLOBAL ID：201902207597924227   整理番号：19S1726924

Analysis of distribution of critical current of bent-damaged Bi2223 composite tape

著者 (10件)： Ochiai, S. (Graduate School of Engineering, Kyoto University) ,  Okuda, H. (Graduate School of Engineering, Kyoto University) ,  Hojo, M. (Graduate School of Engineering, Kyoto University) ,  Sugano, M. (Graduate School of Engineering, Kyoto University) ,  Osamura, K. (Research Institute for Applied Sciences) ,  Kuroda, T. (National Institute for Materials Science) ,  Kumakura, H. (National Institute for Materials Science) ,  Kitaguchi, H. (National Institute for Materials Science) ,  Itoh, K. (National Institute for Materials Science) ,  Wada, H. (National Institute for Materials Science)
資料名： IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
巻： 18  号： SYMPOSIUM 9D  発行年： 2011年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 1757-8981 
発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： Bi2223