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J-GLOBAL ID：201902209728771890   整理番号：19S0550562

Frequency analysis of transient electromagnetic wave caused by low voltage ESD in spherical electrode

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著者 (3件)：
Kawamata, Ken

Kawamata, Ken について

(Dept. of Electronic Engineering, Tohoku Gakuin University)

Dept. of Electronic Engineering, Tohoku Gakuin University について

, 
Minegishi, Shigeki

Minegishi, Shigeki について

(Dept. of Electrical Engineering and Information Technology, Tohoku Gakuin University)

Dept. of Electrical Engineering and Information Technology, Tohoku Gakuin University について

, 
Fujiwara, Osamu

Fujiwara, Osamu について

(Nagoya Institute of Technology)

Nagoya Institute of Technology について


資料名：
IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility

IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility について


巻： 2014-December  ページ： 605-608  発行年： 2014年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 1077-4076  ISBN： 9784885522871  CODEN： IISPD 
発行国： アメリカ (USA)  言語： 英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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WAVE

WAVE について

, 
ESD

ESD について


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