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J-GLOBAL ID：201902213133468807   整理番号：19A1414858

BZT-BCTセラミックにおける単極電気疲労中のドメイン破壊と欠陥蓄積【JST・京大機械翻訳】

Domain disruption and defect accumulation during unipolar electric fatigue in a BZT-BCT ceramic

著者 (4件)： Fan Zhongming (Department of Materials Science and Engineering, Iowa State University, Ames, Iowa 50011, USA) ,  Zhou Chao (Multi-disciplinary Materials Research Center, Frontier Institute of Science and Technology, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China) ,  Ren Xiaobing (Multi-disciplinary Materials Research Center, Frontier Institute of Science and Technology, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China) ,  Tan Xiaoli (Department of Materials Science and Engineering, Iowa State University, Ames, Iowa 50011, USA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 111  号： 25  ページ： 252902-252902-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 0.5Ba(Zr_0.2Ti_0.8)O_30.5(Ba_0.7Ca_0.3)TiO_3(BZT-BCT)は,優れた圧電特性(例えばd_33>600pC/N)を有する有望な無鉛圧電セラミックである。潜在的なデバイス応用として,セラミックの電気疲れ抵抗を評価しなければならない。本論文では,電場透過型電子顕微鏡を用いて,単極サイクル中のBZT-BCT多結晶セラミックの微細構造の進展を研究した。大きな強誘電分域は破壊され,5×10~4単極サイクル後に蓄積された欠陥クラスタとフラグメント化ドメインに置換されることを示した。この疲労状態では,結晶粒は印加電圧に対して非応答性になる。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 透過型電子顕微鏡 ,  微細構造 ,  電子顕微鏡観察 ,  応答特性 ,  多結晶 ,  結晶粒 ,  *セラミック ,  疲れ強さ ,  電場 ,  強誘電分域
準シソーラス用語： 印加電圧 ,  欠陥クラスタ ,  鉛フリー圧電セラミックス ,  圧電特性 ,  *ドメイン構造 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  圧電気,焦電気,エレクトレット  (BM05040M)

タイトルに関連する用語 (8件)： BZT ,  セラミック ,  極 ,  疲労 ,  ドメイン ,  破壊 ,  欠陥 ,  蓄積