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J-GLOBAL ID：201902213308088600   整理番号：19A1571027

ホログラフィック干渉顕微鏡を用いた電極近傍でのイオン濃度その場測定

著者 (4件)： 西川慶 (物質・材料研究機構) ,  齋藤貴樹 (北大) ,  松島永佳 (北大) ,  上田幹人 (物質・材料研究機構)
資料名： 化学電池材料研究会ミーティング講演要旨集  (化学電池材料研究会ミーティング)
巻： 21st  ページ： 45-46  発行年： 2019年06月11日 
JST資料番号： L4013A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 本研究では,電着におけるLi金属電極の形態変化は,電極近傍でのLi+イオン...【JST・京大機械翻訳】【本文一部表示】

シソーラス用語： 顕微鏡 ,  ホログラフィー ,  *二次電池 ,  イオン濃度 ,  濃度分布 ,  電着 ,  リチウム ,  リチウム化合物 ,  *アノード ,  *ホログラフィック顕微鏡

分類 (2件)： 二次電池  (YB04030K) ,  その他の電気・電子部品  (NA05090R)

タイトルに関連する用語 (5件)： ホログラフィック ,  干渉顕微鏡 ,  近傍 ,  イオン濃度 ,  その場測定