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J-GLOBAL ID:201902216893290488   整理番号:19A0473067

長期サービスGISから得られた劣化絶縁スペーサ用誘電体損失試験装置の開発【JST・京大機械翻訳】

Development of Dielectric Loss Test Device for Aged Insulating Spacer Taken from Long-term Service GIS
著者 (5件):
資料名:
巻: 2018  号: ICD  ページ: 1-4  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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現在の状況を解決するために,エージング試験または変電所GISサービスにおけるフルサイズGIS絶縁スペーサに適用されるフィールドにおける高電圧誘電損失試験のためのデバイスが存在しない。そこで,絶縁スペーサの電磁干渉を低減し,漂遊容量を固定できるフルサイズ絶縁体試験箱を開発した。Scheringブリッジと比較して,電流コンパレータブリッジの利点を解析して,測定した絶縁スペーサのまわりの漂遊容量を等価に計算して,試験回路に及ぼすその影響も解析した。実物大碍子試験箱の遮蔽性能を実験的検証によって実施した。誘電損失標準装置を測定することにより,試験システムの測定誤差を計算した。新しいおよび5年の長いサービス絶縁スペーサの間の対比試験結果を研究した。結果は,電流コンパレータブリッジがより高い精度を持ち,20kV以上の電圧で動作できることを示した。この試験システムの誘電損失測定誤差は2%以内であり,試験結果の有効性を保証できる。20kVの電圧で,新しい絶縁スペーサは良好な電気絶縁特性を示し,容量と誘電損失の試験結果はほとんど変化しなかった。しかし,5年の長いサービス絶縁スペーサの試験結果は大きく変化し,特に誘電損失値の変化は非常に明らかである。したがって,試験システムは,異なるエージング時間で絶縁スペーサの作動状態を監視することができ,その静電容量と誘電損失の値を通して,エージング状態を評価することができる。それはGISの安全な運用にとって非常に重要である。それは,廃止される必要がある碍子のタイムリーな発見のためである。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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