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J-GLOBAL ID：201902217604775277   整理番号：19A0241398

シンクロトロン放射に基づくX線光電子分光法によるヒューミンの化学構造を特性化するための試料調製法の開発【JST・京大機械翻訳】

Development of sample preparation technique to characterize chemical structure of humin by synchrotron-radiation-based X-ray photoelectron spectroscopy

著者 (11件)： Pham Duyen Minh (Department of Civil Engineering, Graduate School of Engineering, Nagoya University, Nagoya, Japan) ,  Miyata Yasushi (Nagoya Municipal Industrial Research Institute, Nagoya, Japan) ,  Awata Takanori (Institute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya University, Nagoya, Japan) ,  Nakatake Masashi (Aichi Synchrotron Radiation Center, Seto, Japan) ,  Zhang Chung Fang (Institute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya University, Nagoya, Japan) ,  Kanda Keiji (Department of Civil Engineering, Graduate School of Engineering, Nagoya University, Nagoya, Japan) ,  Ogawa Satoshi (Department of Materials, Physics and Energy Engineering, Graduate School of Engineering, Nagoya University, Nagoya, Japan) ,  Ohta Shozo (Institute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya University, Nagoya, Japan) ,  Yagi Shinya (Institute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya University, Nagoya, Japan) ,  Katayama Arata (Department of Civil Engineering, Graduate School of Engineering, Nagoya University, Nagoya, Japan) ,  Katayama Arata (Institute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya University, Nagoya, Japan)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 51  号： 2  ページ： 226-233  発行年： 2019年 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シンクロトロン放射線に基づくX線光電子分光法(XPS)により,ヒューミン(HM,非導電性不溶性有機鉱物フミン物質)の炭素結合状態を初めて特性化した。異なる混合比(1:1,1:2,および1:6v/v)でのHMと銅粉末(Cu)の混合物から形成された二重側面炭素テープ,インジウムシート,銅メッシュ,およびペレットにおける4つの試料調製技術を比較した。結果は,最初の3つの方法を用いて調製したHM試料は,C1s XPSスペクトルの結合エネルギーのシフトのために不可能なXPSスペクトルの解釈を行う顕著な電荷ビルドアップを有することを示した。HM:Cu混合物のペレットは電気伝導率を強化し,試料表面上の電荷蓄積を減少させた。1:1(v/v)のHM:Cu比で調製したペレットは,観測位置に関係なく,C1sスペクトルの差により最小電荷蓄積と高感度を与えた。Cu中の炭素汚染の減算により推定したC 1sスペクトルは,C=C(284.0eV),C-C/C-H(285.1eV),C-O(286.3eV),C=O(287.3eV),およびCF(289.3eV),CF_2(290.2eV)およびCF_3(291.4eV)の3つの付加ピークを示した。軟X線吸収分光法(XAS)分析は,HM構造中のフッ化物(F1s)の存在をさらに証明した。HM中のフッ素化炭素の検出は,他の従来の分析と比較して,XPSの大きな進歩を示した。0°の入射角をもつX線はHMのC1sスペクトルにおいて最小(ほとんど無視できる)エネルギーシフトを与え,試料の表面を損傷しなかった。Copyright 2019 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *X線光電子分光法 ,  帯電 ,  インジウム ,  ペレット ,  *X線光電子スペクトル ,  軟X線 ,  電荷 ,  *キャラクタリゼーション ,  電気伝導率 ,  炭素 ,  *試料調製 ,  銅 ,  *ヒューミン ,  *シンクロトロン放射 ,  フッ化物 ,  結合エネルギー

著者キーワード (8件)： 炭素テープ ,  銅メッシュ ,  銅粉末 ,  ヒューミン ,  ペレット試料 ,  正電荷蓄積 ,  XAS ,  XPS

分類 (2件)： 無機化合物の物理分析  (CC03024P) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (7件)： シンクロトロン放射 ,  X線光電子分光法 ,  ヒューミン ,  化学構造 ,  特性化 ,  試料調製 ,  開発