文献

J-GLOBAL ID：201902220466731429   整理番号：19A1465723

精密X線マッピングシステムを用いた垂直試験とクライオモジュール運転中の電界放出研究【JST・京大機械翻訳】

Field emission studies in vertical test and during cryomodule operation using precise x-ray mapping system

著者 (11件)： Sakai Hiroshi (High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan) ,  Sakai Hiroshi (The Graduate University for Advanced Studies (SOKENDAI), Hayama, Kanagawa 240-0115, Japan) ,  Cenni Enrico (The Graduate University for Advanced Studies (SOKENDAI), Hayama, Kanagawa 240-0115, Japan) ,  Enami Kazuhiro (High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan) ,  Enami Kazuhiro (The Graduate University for Advanced Studies (SOKENDAI), Hayama, Kanagawa 240-0115, Japan) ,  Furuya Takaaki (High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan) ,  Furuya Takaaki (The Graduate University for Advanced Studies (SOKENDAI), Hayama, Kanagawa 240-0115, Japan) ,  Sawamura Masaru (National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), Tokai, Naka, Ibaraki 319-1106, Japan) ,  Shinoe Kenji (High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan) ,  Umemori Kensei (High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan) ,  Umemori Kensei (The Graduate University for Advanced Studies (SOKENDAI), Hayama, Kanagawa 240-0115, Japan)
資料名： Physical Review Accelerators and Beams  (Physical Review Accelerators and Beams)
巻： 22  号： 2  ページ： 022002  発行年： 2019年 
JST資料番号： W5064A  ISSN： 2469-9888  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電界放出は超伝導空洞性能の劣化における最も重大な問題の一つである。しかしながら,空洞性能試験(垂直試験と呼ばれる)と低温モジュール操作の間の現場排出源の調査は困難である。したがって,電界放出源からの電子放出を正確に調べるために,垂直試験と低温モジュール動作の両方のためのエネルギー回収ライナック1.3GHz9セル超伝導空洞の診断システムを開発した。開発したシステムは,二つのタイプのセンサ,すなわち,炭素センサとSi p-i-nダイオードから成り,それぞれ,電子放出により生成される温度上昇と放射を測定する。垂直試験における空洞軸の周りのセンサアレイを回転させることは,全空洞表面に関する詳細な情報を提供する。垂直試験におけるシステムによって測定された正確なX線マッピングプロファイルは,局所放出源の同定を可能にした。本論文では,新しく開発した回転写像システムで得られた実験結果だけでなく,正確なシミュレーションに基づく詳細な手法の観点から,垂直試験において電界放出源がどのように同定されるかについて述べた。さらに,最適化された装置による電界放出研究を,低温モジュール試験に拡張した。これらの開発により,低温モジュール組立とビーム操作によって導入された空洞電界放出特性の変化を監視することができる。Copyright 2019 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 写像 ,  エネルギー回収 ,  超伝導空洞 ,  *X線 ,  炭素 ,  最適化 ,  線形加速器 ,  *電界放出 ,  センサ ,  センサアレイ ,  電子放出 ,  昇温 ,  ダイオード ,  *クライオモジュール ,  改変 ,  加速器
準シソーラス用語： 排出源 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 加速器一般及び理論  (BE02010M) ,  線形加速器  (BE02030I)

タイトルに関連する用語 (7件)： X線 ,  マッピング ,  垂直 ,  試験 ,  クライオモジュール ,  電界放出 ,  研究