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J-GLOBAL ID:201902223430876070   整理番号:19A0658730

高κ誘電体の原子層堆積のためのサブnm薄SiO_2層によるMOS_2官能化【JST・京大機械翻訳】

MoS2 Functionalization with a Sub-nm Thin SiO2 Layer for Atomic Layer Deposition of High-κ Dielectrics
著者 (18件):
資料名:
巻: 29  号: 16  ページ: 6772-6780  発行年: 2017年 
JST資料番号: T0893A  ISSN: 0897-4756  CODEN: CMATEX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ナノ電子デバイスにおける二次元(2D)半導体遷移金属ジカルコゲニド(TMD)のいくつかの応用は,2D TMD上の極薄ピンホール自由高κ誘電体膜の堆積を必要とする。しかし,2D TMD上へのnmの薄い高κ誘電体膜の堆積は,不活性TMD表面のために困難なままである。ここでは,合成多結晶2D MoS_2膜の表面をSiO_2で官能化し,薄くて連続したAl_2O_3とHfO_2層の原子層堆積(ALD)を可能にすることを実証した。核形成,成長モード,および層合体過程の起源を,相補的な物理的特性化技術によって研究した。それは,堆積した材料の化学結合,絶対量,および表面被覆率を決定することができる。SiO_2を空気中で物理蒸着Siを酸化することによって調製した。MoS_2の表面親水性は表面ヒドロキシル基の存在によりSiO_2官能化後に著しく増加した。1.5×10~15原子/cm2のSi含有量のSiO_2層は,300°CでMoS_2上に連続2nmの薄いAl_2O_3とHfO_2層の堆積を可能にした。この高速層閉鎖はSiO_2核形成層のサブnm厚さと不連続性にもかかわらず達成できる。実験結果に基づいて,この高速層閉鎖を説明する核形成機構を提案した。Al_2O_3とHfO_2の核形成はSiO_2島上で起こり,高速層閉鎖は多くのnm間隔のSiO_2島から始まる横方向成長によって達成される。最後に,機能化MoS_2上のAl_2O_3の誘電特性を,3.4nm等価酸化物厚さで3.8×10-6A/cm2の漏れ電流を示すトップゲートキャパシタで確認した。結論として,ALDにおける高速核形成および層閉鎖は,サブnmの薄い不連続核形成層に対してさえも達成できる。この洞察は,薄くて完全に連続した層が必要な他のALDプロセス,材料,あるいは応用にも適用できることを提案した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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酸化物薄膜  ,  塩基,金属酸化物 
タイトルに関連する用語 (4件):
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