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J-GLOBAL ID：201902224970519942   整理番号：19A0516340

突然変異試験コストを低減するための改良遺伝的アルゴリズム【JST・京大機械翻訳】

Improved Genetic Algorithm to Reduce Mutation Testing Cost

著者 (2件)： Bashir Muhammad Bilal (Center for Software Dependability, Capital University of Science and Technology, Islamabad, Pakistan) ,  Nadeem Aamer (Center for Software Dependability, Capital University of Science and Technology, Islamabad, Pakistan)
資料名： IEEE Access  (IEEE Access)
巻： 5  ページ： 3657-3674  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2422A  ISSN： 2169-3536  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 突然変異試験は,効果的なテストケースを生成する助けとなる故障ベースのテスト技術である。突然変異試験は,数千の突然変異体を実行する必要があるので,計算的に高価である。この状況において,遺伝的アルゴリズムのような探索ベースのアプローチは,コストを低減するためにテストケース生成を自動化するのを助けることができる。本論文では,突然変異試験の計算コストを低減できる改良遺伝的アルゴリズムを提案した。最初に,テストケースを評価するためにオブジェクト指向プログラム特徴を効率的に使用する新しい状態ベースおよび制御指向適合性関数を提示した。次に,実装したツール,eMuJavaを用いてそれを経験的に評価し,それを標準適合関数と比較した。結果は,提案した適合性関数がテストケースの適合性に関する詳細な情報を提供するが,標準的な遺伝的アルゴリズムはテストケースを修復するために効果的に使用することができないことを示した。したがって,著者らは,適合性情報を知的に使用して,適切な子孫を生成するために,新しい双方向交差と適応可能な突然変異法を提案した。最後に,改良遺伝的アルゴリズムをランダム試験,標準遺伝的アルゴリズム,およびEvoSuiteと比較した。実験結果は,著者らの提案したアプローチが,より少ない数の試み(計算コストの削減)において,最適テストケースを見つけることができることを証明した。そのうえ,疑わしい等価突然変異体からソフトウェアバグを検出することができて,これらの突然変異体は最終的に殺される(突然変異スコアを増加させる)。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 適応性 ,  自動化 ,  故障 ,  *突然変異 ,  *遺伝的アルゴリズム
準シソーラス用語： スコア ,  オブジェクト指向 ,  計算コスト ,  テストケース生成 ,  テストケース , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (3件)： 突然変異 ,  試験 ,  遺伝的アルゴリズム