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J-GLOBAL ID：201902226349803013   整理番号：19A2599305

PEEMを用いたZnOナノロッドの電界放出特性評価

著者 (6件)： 河本雅弥 (北大) ,  工藤雅嗣 (菅製作所) ,  水野潤一 (北大) ,  JEEM Melbert (北大) ,  渡辺精一 (北大) ,  朝倉清高 (北大)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 80th  ページ： ROMBUNNO.19p-C309-15  発行年： 2019年09月04日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 【序論】ZnOナノロッドの表面に電界をかけると、ロッドの先端で電界集中が起き、電界放出が起きやすくなる。この特性は電界放出ディスプレイへの応用が期待されている。しかしディスプレイとして応用する場合にはナノロッドアレイ(Fig1(A))が均一...【本文一部表示】

シソーラス用語： 電子顕微鏡観察 ,  *光電子放出 ,  *ナノロッド ,  電界放出 ,  キャラクタリゼーション ,  *酸化亜鉛 ,  フラットパネルディスプレイ ,  電界放出アレイ ,  結晶成長 ,  紫外線照射 ,  ナノロッドアレイ ,  光電子顕微鏡法 ,  酸化亜鉛ナノロッド
準シソーラス用語： PEEM【電顕】 ,  ZnOナノロッド ,  顕微鏡画像 ,  電界放出ディスプレイ

分類 (1件)： 光電子放出  (BM09030D)

タイトルに関連する用語 (4件)： PEEM ,  ZnOナノロッド ,  電界放出 ,  特性評価