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J-GLOBAL ID:201902227935801575   整理番号:19A0186863

三角LPテストを用いた区分線形抵抗回路のすべての解の発見【JST・京大機械翻訳】

Finding All Solutions of Piecewise-Linear Resistive Circuits Using Triangular LP Test
著者 (2件):
資料名:
巻: 2018  号: APCCAS  ページ: 243-246  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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効率的アルゴリズムを,区分線形(PWL)抵抗回路のすべての解を見つけるために提案した。このアルゴリズムは,与えられた領域におけるPWL方程式のシステムに対する解の非存在のための簡単な試験(LP試験と呼ばれる)に基づいている。従来のLP試験において,PWL方程式のシステムを,長方形によるコンポーネントPWL関数を囲むことによって線形計画問題として定式化した。本論文では,長方形と三角形の両方を用いたLP試験アルゴリズムを提案した。LP試験は,座標変換のアイデアを斜め座標系に導入し,アルゴリズムを通して二重シンプレックス法を用いることにより,より強力でより効率的になることを示した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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図形・画像処理一般 

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