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J-GLOBAL ID：201902227946469487   整理番号：19A1485926

テスト後リスクに基づく故障サンプルサイズの決定のためのBayes法について【JST・京大機械翻訳】

On Bayes Method for Determination of Fault Sample Size Based on Post-test Risk

著者 (3件)： Zhou Kui (Institute of Weaponry Engineering, Naval University of Engineering) ,  Sun Shiyan (Institute of Weaponry Engineering, Naval University of Engineering) ,  Sun Qiang (Institute of Weaponry Engineering, Naval University of Engineering)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ITOEC  ページ： 144-148  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： サンプルサイズを決定する古いアプローチが粗すぎて,試験サンプルサイズが大き過ぎるという問題の観点から,装置システムの各ユニットの事前情報を融合することによって,装置システムの試験データを得るために,情報エントロピー法の合理的応用を提案した。事前分布の可試験性指標を得て,故障サンプルサイズと試験方式をBayes事後リスク判定基準によってさらに決定した。電気アクチュエータシステムモジュールの試験データを例として取り上げ,故障検出率を試験指標として採用し,故障サンプルサイズを86.5%低減し,試験指数誤差を解析と計算による古典的試験と比較して0.75%,試験コストを低減し,信頼性を保証した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 可試験性 ,  故障検出 ,  *故障 ,  判定基準 ,  信頼性
準シソーラス用語： 事前分布 ,  情報エントロピー ,  試験データ ,  事前知識 ,  Bayes法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： テスト ,  リスク ,  故障 ,  サンプルサイズ ,  Bayes法