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J-GLOBAL ID：201902233057185209   整理番号：19A1369411

TEM-周波数変調法を用いたAuナノワイヤのヤング率方位依存性の測定

著者 (6件)： 小堀雄稀 (北陸先端科学技術大学院大) ,  石塚慧介 (北陸先端科学技術大学院大) ,  見寺悠伽 (金大 院) ,  富取正彦 (北陸先端科学技術大学院大) ,  新井豊子 (金大 院) ,  大島義文 (北陸先端科学技術大学院大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 66th  ページ： ROMBUNNO.9a-M112-7  発行年： 2019年02月25日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 1.はじめに 金属バルク多結晶は方位が揃っていない多数の単結晶から構成されており、方位に依存した特性は失われ、等方的な性質が現れる。一方、1個または数個の単結晶から構成されるナノスケールワイヤでは方位に依存した異方性を示すことが示唆されてい...【本文一部表示】

シソーラス用語： ナノワイヤ ,  *Young率 ,  結晶方位 ,  周波数変調 ,  原子間力顕微鏡 ,  ばね定数 ,  透過型電子顕微鏡 ,  水晶振動子 ,  *金ナノワイヤ
準シソーラス用語： 周波数変調原子間力顕微鏡

分類 (1件)： 金属の機械的性質  (BL01022T)

タイトルに関連する用語 (5件)： TEM ,  周波数変調 ,  Auナノワイヤ ,  ヤング率 ,  方位依存性